1。简介AD7380/AD7381 3.0 V功能在3.6 V供应速率，最大性能速率，同步双通道采样16和14位与模拟转换（ADC）3.0 V至3.6 V高速，低功率，低功率。模拟输入的类型是不同的，接受广泛的一般输入电压并显示为CS的向下边缘。芯片中的综合过度模块可改善动态范围并降低低带宽的噪声。该设备包含2.5 V的缓冲电压参考。或者，可以使用最多3.3 V的外部参考电压。转换过程和数据收集都使用标准控制输入，并且可以轻松与微处理器或数字信号处理器（DSP）进行交互。当使用独立的逻辑食品时，该设备与1.8V，2.5V和3.3V接口兼容。 AD7380/AD7381有16杆铅框架芯片秤（LFCSP）芯片，名义工作温度范围为-40°C至+125°C。产品特性：1。有两个完整的ADC函数，可以接收综合的双通道采样和转换。 2。系列兼容产品。 3.4 MSP高性能率。 4。3毫米x 3毫米毫米的空间节省LFCSP软件包。 5。集成的超级模块可以改善动态范围，降低噪声并降低SCLK速度要求。 6。差分类似输入，具有广泛的一般性。 7。小采样电容器可以减少放大器驱动负载。 2。相关的技术文章有两种常见的过度技术：正常和滚动平均值。这些技术在AD7380/AD7381及其高性能SADC系列中执行，该系列允许恢复PR转换Dataomo，从而减少了数字控制器的负载。这是数据收集系统的优势。在精确的数据采集系统中，信号 /噪声比（SNR）和有效位数（ENOB）的数量越高，越好在宽带噪声的情况下确定信号。噪声会降低系统性能。降低噪声的方法包括用高分辨率ADC（例如σ-ΔADC或SAR ADC）或使用数字过滤技术替换系统。在σ-ΔADC体系结构的设计中，过度样本技术具有悠久的历史。 σ-ΔADC由σ调制器，然后是数字信号算法模块（或数字滤波器）。 σ调制器收集数千个样品，并且与独特的量化器一样小，可以提取这些样品以获得高分辨率转换结果。样本参与平均值越多，可用的分辨率越多，因此转换结果将解决采样值。常见的σ-δ应用包括温度监测和电子尺度测量系统。 σ-ΔADC架构基于以比目标带宽高得多的小载荷的采样。收集更多样品，但收费越来越少。典型σ-ΔADCS的ICAL范围是客观信号的32-1000倍。 Overmore和噪声（调制方案）的声学形式的组合结果将频带中的噪声移动到目标带宽之外。然后，噪声移至更大的带宽，并被数字滤波排除在外。结果是低分辨率目标带宽噪声。 σ-ΔADC的每个转换结果都是由较小但频繁的采样事件产生的。 ADC SAR使用连续的方法来确定结果。 SAR ADCSTEP逐步确定每个位的位置，以数字方式表示在一个采样的时刻。 SAR样品负载重新分布能和数字和模拟转换器矩阵（DAC）。将采样数据与二元加权电容器的每个矩阵进行比较。二元加权电容器的总数决定了位的数量或ADC SAR的分辨率。转换过程由高速内部时钟和电容控制和更改VE DAC矩阵。它允许快速信号转换。 SAR ADC用于需要宽带宽的数据采集系统。 ADC SAR通常会改变一个时刻，以提供与特定时刻相关的数字响应。随着更快的SAR转换器的出现，Overmore的使用增加，目的是增加主要目标带宽的分辨率。在当前的ADC SAR中，它们在现场技术上使用，通常是通过在微控制器或可编程场矩阵（FPGA）中进行处理来完成的。 ADI在SAR系列ADC中具有整合的位置功能。这种超级点功能可改善噪声性能，简化接口需求，允许用户直接使用它而无需设计FPGA或微控制器，并允许他们执行需要大量资源的平均计算。通过可管理的数据速率，总体特征尽可能改善数据处理。表1。ADICompany双管，SAR尺寸样本SAR系列ADC类型16位12位AD7380AD7386AD7381AD7387AD7388在模拟数字转换期间，ADC数字化模拟信号。与非发射溶液相比，超级位点通过模拟信号的样品改善了有效分辨率的数字化信号，并以比所需速度高得多的速度以数字速度转动信号。越过的越野赛允许平均转换器噪声用户在更宽的带宽中，从而消除了噪声。对于宽带（白色），零（0）噪声无关，噪声以√2x或3 dB的overmore降低。其他光谱含量（例如噪声和相关谐波）平均不会减少。图1显示了具有多个噪声源的ADC的噪声水平（深灰色），其中包括量子噪声，热噪声和外部噪声（控制器，时钟，参考等）分布在Nyquist带宽上。 nyquist理论（FSAMPLING）根据（2xfin）），为了精确地重建信号，输入信号必须将至少两倍的目标进行采样。要结束，必须遵循相同的标准。过度占信号的噪声降低，导致系统的SNR增加并改善高分辨率（假设没有明显的失真成分）。总体而言，是一种数字信号处理技术，在收集样品后需要获得平均值。数据样本平均类似于低速过滤器。 ADI的AD7380系列是SAR SAR系列ADC同步采样，可以使芯片过高。 SAR系列ADC可以执行两种超过站点技术：常规平均和滚动平均值。在正常的平均值中，平均算法是简单的平均值。将S样品添加在一起并分配M的总结果。此方法为每个平均结果收集一组新的S样本。表2提供了算法如何工作的一般表示。在此示例中，数据有12个样本。对于m = 2，他们平均参与的样品数量为2，并且为两个样品中的每个样品生成了新的输出，因此速度是有效采样率的一半。 The results are averages for samples 1 and samples 2, samples 3 and samples 4, etc. Table 2. Normal average sample number Sample Average result m = 2m = 410.2000.25000.240020.30030.2300.23504040.240.2600.23000.250060.20070.2400.270080.30090.2700.26000 。 111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111往111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111往111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111MEL11111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111111ME11111111111111111111111111111111111111111111111111111111ME11111111111111111111111111111111111111111备。对于通常的平均公式为x的平均值。如果是第n个采样值。 AD7380 SAR系列ADC的平均标准超过了芯片中实现的位置，该标准可以收集多达32个平均样本。虽然启用了该技术，但AD7380将自动收集转换为M的样品并产生平均转换结果。如果转换结果可用，则取决于AD7380系列的配置Record1中OSR位总速率建立的mproked M样品。样本转换M完成后，可以读取结果。图2显示了AD7380如何执行算法。在此示例中，我们假设m = 8。也就是说，过度速率（OSR）为8收集并平均。 LA转换在内部开始后，AD7380执行一系列转换并捕获过程，直到完成所需数量的样本（M）为止。平均值是在捕获的数据中制作的。该过程引入了特定的处理延迟，如图2所示。平均结果是在T1中获取的，并且输出通过SDOX PIN获得。此时，将推出新的平均操作，并将产生新的转换紧急情况以收集样本。图2显示，该技术的应用降低了采样系统的有效ODR。 ODR的减少与样品数量（M）或OSR的增加成反比。对于需要更好性能但可以接受慢速ODR的应用程序，建议使用普通的超越方法。平均滚动过度技术使用缓冲区来存储样品并执行平均过程。平均位移算法选择e最近存储在缓冲区中的M样品并将数字设计的总结果分配，缓冲区需要额外的空间来创建额外的存储空间。平均滚动超越技术使用第一个-Out -fir -Fir -Fir -Firt（FIFO）算法，该算法的ADC很小，缓冲区存储容量有限。如果缓冲区已满并且有新样本可用，则如图3所示，因此在缓冲区中丢弃了早期数据。使用先前的示例数据，前八个采样结果填充了FIFO缓冲液（S1-S8）。当显示新的样本数据（S9）时，S1在缓冲区外移动，S9插入缓冲区。一旦将新样本保存在缓冲区中后，重复此过程。如前所述，平均滚动调查技术添加了最新的M样品，并将总BYM划分以计算平均值。在图3中的M = 4中显示的示例中，该算法添加了FIFO A B4缓冲液的四个样本（这些是最近的四个样本），在同一FIFO缓冲区的以下平均位置参与了平均水平，但是这些缓冲区的内容会改变。如果M = 8，则将FIFO缓冲区中的所有样品包含在总和操作中，然后分为8。要启用AD7380系列中的平均滚动SURM，必须在逻辑1中确定OS_Mode位，并且配置1记录中的OSR位必须是一个有效值不得零值以在FIFO Buffer中最多存储八个样本。转换后，立即更新FIFO缓冲区。在启用平均工作服之后，该算法从FIFO缓冲液中收集最新的M样品，并将其除以M。平均结果是通过AD7380的PIN SDOX产生的。图4显示，转换Cycless后续sion提供了过度的结果，前提是缓冲液需要所需的样品（在这种情况下为M = 8）。因此，即使M（样品数量）增加，输出数据速度（ODR）也更快。平均水平超过-sigHTED技术在需要高ODR和高性能的应用中很有用。该技术可以实现的性能改进受到可用的缓冲存储空间的限制。平均简化的滚动公式为：其中x是样品的平均值。M是参与平均值的样品数量。 BI是特定缓冲区位置的样本。过度站点的使用使ADC可以达到更高的动态范围。假设噪声源不相关并且平均值为零，则过分的作品。这是因为样品将白噪声视为光谱中均匀的分布噪声，或者是围绕相邻代码的高斯噪声的分布，是可以降低平均的符号。图5是使用AD7380生成的快速傅立叶变换曲线（FFT）的一个示例，分为两种情况。过度和施加的滚筒的平均值 - smell osr = 8。E地板，包括SNR的增加（见图6）。在此示例中，当启用了超过近视的平均平均值和正常平均值时，SNR分别增加到96 dB和95 dB。为了评估通过应用超越技术获得的SNR的改进，请使用以下等式：其中n是ADC分辨率。 FS是采样频率。 BW是目标带宽。 10log（fs/（2×bw））是该过程的增益。 FS/（2×BW）是采样比或奈奎斯特比率。请注意，加工增益被包括在2xBW之外考虑进行采样的其他超过站点程序。在以下方程式中，增加k时间采样频率（其中k是平均或过度频率中涉及的样本数）会增加SNR。理想情况下，K的值的两倍将SNR增加3 dB。表3和表4提供了详细的解释，以不同的位置速率以不同的位置速率在SNR中典型的正常平均值和滚动SURM的影响。如e超越速率增加，SNR也会增加。表3。霸主语音语音的参考电压典型SNR（DB）参考电压（VREF）= 2.5 VVREF = 3.3 V停用2 x 4 x 4 x 8 x 16 x 16 x 90.892.694.394.395.896.396 ..每种技术都有各种适当的应用。但是，每种技术都有其自身的特征，这些特征应在特定的应用中考虑。超越技术的平均典型具有以下特征：提高性能。该技术平均显示了其他数据。 •样本或OSR的数量增加，导致较慢的成本较慢，总成本较低，因为应用程序可以使用较低的SCLK频率。 - 信号带宽明显低于游戏速度（见图7）。请记住，带宽极限类似于低速过滤器。 ・图7。SNR和输入频率之间的关系。对过度的SURM的反应，普通拍摄过度技术的技术有以下特征： - 可以更改采样速度，并通过引脚CS的应用控制。 - 高速采样率最高为4 msp。 - 由于缓冲局的限制，参与样本的平均数量限制为8。信号带宽更宽（见图7）。如前所述，两种超越技术都大大提高了性能。使用以下方程式，SNR受ADC的分辨率n的限制：使用以下等式计算n：给定理想的16 -bit ADC，当计算SNR时，最大可用的SNR为98 dB。最大SNR改进幅度受ADC位数量的限制。如图6所示，当过度速度大于8时，SNR的性能是什么？几乎没有进步。为了获得过度的优势，应提高分辨率n。这是分辨率AD7380的改进属性的重要性。尽管有局限性，AD7380系列可以有效地改善T他通过过度解决，从而扩展了可实现的SNR。为了启用CHIP改进分辨率特征，您必须写入Configer1注册的位res（位2）。要了解SNR的超级信号，请使用先前的方程计算17 -bit ADC的SNR。结果，SNR为104.1 dB。用snrest表达式替换此值提供了k系数k，这对于增加分辨率稍微提高分辨率是必不可少的。为了将分辨率增加1位，ADC高于站点的速率必须至少为4位。以下方程是计算改进分辨率所需的上点系数：表5总结了分辨率的改进，对几个过度点率的分辨率改进。表5。分辨率的改进在不同的过度速率上，过度速率的数量增加了2×4×8×16×32×0.511.522.5。图8显示了具有改进的分辨率特征的AD7380的SNR性能。实现的SNR性能是MORE超过100 dB。另外的2位分辨率改进改善了量化噪声并增加了SNR。分辨率的改进是一种形式，以增加其系统的动态范围，而不会增加2位分辨率的成本。此功能的缺点是，串行端口接口（SPI）的SCLK必须提供2个额外的时钟周期以生成平均转换结果。电机控制应用使用光学编码器来准确测量位置。例如，必须同时捕获编码器的正弦和余弦输出。对于此类应用，建议使用同步采样ADC，例如高性能AD7380。角位置θ是从窦的角质值和捕获的余弦信号获得的。如果这些信号是理想的符号，则结果是精确的。在实际应用中，这些信号受噪声的影响并导致读数错误。这些偏差会在角度上引起错误编码器的离子。编码器高精度必要性的一个例子是，当发动机以较低的速度工作时，即发动机在达到目标位置之前开始降低速度时。总体而言，AD7380芯片中的超视力技术用于数字过滤数字和余弦信号，从而允许高动态范围。选择并播放以将微型组件安装在印刷电路板（PCB）中，并且没有改进的转换，而无需进行改进的转换，并且对于许多应用来说，需要进行Cosenola Angular定位精度，例如工业机器的点击和机器人臂以将工业机器机器人的机器人臂移动到特定位置。总体而言，是一种数据处理技术，允许ADC提供精确的转换结果。 ADC SARS通过微控制器，DSP或FPGA在随后的处理中使用此技术。 ADI的高速SAR系列（例如AD7380）将此特征整合到两个展览中，以筹码中的技术超过了技术：也不MAL和滚动平均值。 SDOX引脚使您能够获得直接的平均转换结果，并以极大的结果和AD C参数的立即反映，例如SNR和完整的动态范围。典型的平均超级技术适用于需要更高性能并可以接受降低的手表速度和输出数据速度的应用。可注册的平均OVERMOS -SIGH技术适用于需要速度和性能的应用。分辨率的增加可以进一步提高采样性能。请记住，结合讨论的两种近视技术，可以将附加的2位分辨率与AD7380系列分辨率的改进的属性一起添加。 AD7380系列是一个高速度Saradcidad que降低了carga de spi en MicroControladores，lo que persite un procesamiento datos datos Adicional。 Los Dispositivos de la Serie AD7380儿子Extremarademente ConciablesY Pueden Mejorar laprecisióndelaconscresióndeadc。 3。DescargarInformaciónrelacionada1。技术手册https://share.eepw.com.cn/share/download/ID/3957492，用户手册https://share.eepw.com.cn/share/share/download/3957503，技术文章https://www.analog.com/cn/resources/technical-articles/evaluate-data-converters-with-python-or-matlab.html4，recursos de Software https://github.com/nalogdevicesinc/no-oos/blob/main/controladores/ad738x/adc/adc/adc/adc/adc/adc。 Salte al Siguiente Enlace para laseleccióndetecnologíadel 30 aniversario：https：//wwwww.eepw.com.cn/event/action/action/action/adi_2025/index.html